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　　工業(yè)CT是在射線檢測的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，其基本原理是當(dāng)經(jīng)過準(zhǔn)直且能量I0的射線束穿過被檢物時，根據(jù)各個透射方向上各體積元的衰減系數(shù)從不同，探測器接收到的透射能量I也不同。按照一定的圖像重建算法，即可獲得被檢工件截面一薄層無影像重疊的斷層掃描圖像(圖1），重復(fù)上述過程又可獲得一個新的斷層圖像，當(dāng)測得足夠多的二維斷層圖像就可重建出三維圖像。當(dāng)單能射線束穿過非均勻物質(zhì)后，其衰減遵從比爾定律：
　　即   
　　式中、為已知量，未知量為μ。一幅M×N個像素組成的圖像，必須有M×N個獨(dú)立的方程才能解出衰減系數(shù)矩陣內(nèi)每一點(diǎn)的μ值。當(dāng)射線從各個方向透射被檢物體，通過掃描探測器可得到MxN個射線計數(shù)和值，按照一定的圖像重建算法，即可重建出MXN個μ值組成的二維CT灰度圖像。